邊界值的選擇可以分為二值邊界測驗和三值邊界測驗，對于二值邊界測驗，應為每個邊界選擇兩個輸入，這些輸入對應于邊界上的值和等價劃分邊界外的增量距離；對于三值邊界測驗，應為每個邊界選擇三個輸入，這些輸入對應于邊界上的值和等價劃分邊界的每一次的增量距離，增量距離應定義為對應的資料型別的最小有效值，
二值邊界測驗在大多數情況下是充分的；但是，在某些情況下可能需要進行三值邊界測驗（例如：測驗人員和開發人員在確定被測軟體中變數的邊界沒有發生錯誤時的嚴格測驗）
1、二值基本邊界值分析
邊界值測驗的另一個關鍵假設是認為：失效極少是由兩個（或多個）缺陷的同時發生引起的，在可靠性理論上叫作“單缺陷”假設，這種依據“單缺陷”，這種依據“單缺陷”假設的邊界值測驗稱為基本邊界值分析，
在邊界值測驗時，我們通常使用二值邊界，再輔助以正常值來設計輸入變數的值，
對于只有x和y兩個輸入變數的軟體，其輸入域在二位坐標系中就是陰影所標示出來的部分，采用基本邊界值分析得到的測驗用例就是黑點所在位置，一共九個測驗用例，
如果有一個n變數的軟體輸入域，使其中一個變數略小于最小值、最小值、正常值、最大值、略大于最大值這樣五種選擇，其余的所有變數取正常值，該N變數軟體輸入域的邊界值分析會產生4n+1個測驗用例，
2、三值基本邊界值分析
對于只有x和y兩個輸入變數的軟體，使每個變數略小于最小值、最小值、略大于最小值、正常值、略小于最大值、最大值、略大于最大值這樣七種選擇，其余的所有變數取正常值，
對于一個n變數輸入域，三值基本邊界分析將會產生6n+1個測驗用例，
3、最壞情況邊界值分析
最壞情況邊界值分析是在“多缺陷”假設的情況，即程式的失效是由于兩個（或多個）變數在其邊界值取值共同引起的，這在電子電路分析中稱為“最壞情況測驗”，
針對n個變數的輸入域，最壞情況測驗用例將是五元素集合的笛卡爾積，會產生5^n個測驗用例，
4、健壯最壞情況測驗
對于確實極端的測驗，會采用健壯最壞情況測驗，把略小于最小值、略大于最大值的兩個無效值考慮在內，同時考慮最壞情況，使用七元素集合的笛卡爾積，會產生7^n個測驗用例，
5、邊界值的獲取
依據產品產品說明書/需求規格說明等中的輸入域范圍可以明顯地獲得一些數值型引數的邊界，或者在使用軟體的程序中可以容易找到，一些常見的邊界值包括：螢屏游標的最左上、右下位置，報表的第一行和最后一行，陣列元素的第一個和最后一個，回圈的第0次、第1次和最后1次，等等，
上點：邊界上的點（即范圍上的點）
離點：離上點最近的點，如果輸入域是封閉的，則離點在范圍外；如果輸入域是開區間，則離點在域的范圍內
內點：在輸入域內任意一個點（一般取中間值）
軟考試題
用邊界值分析法，假定1<x<10,那X在測驗中應該取的邊界值是（A）
A.X=1,X=2,X=9,X=10
B.X=2,X=9
C.X=1,X=10
D.X=1,X=5,X=6,X=10
上點：邊界上的點，范圍為（1,10），上點就是1,10
離點：由于都是開區間，即要向內取值，取得值為2,9
內點：范圍內取一個值，一般取中間值
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