CDM、MM、HBM為ESD不同的測驗模式。
CDM:Charged Device Model。是指器件本身由于電荷積累,迅速放電,導致器件被損壞。
MM:Machine Model。帶電導體對器件發生的靜電放電作用。電阻小,電流大,釋放能量高。
HBM:Human Body Model。帶電操作者接觸器件管腳,通過器件放電,導致器件損壞。電阻大,電流小,釋放能量低。
轉載請註明出處,本文鏈接:https://www.uj5u.com/qita/53322.html
標籤:硬件設計
上一篇:樹莓派用戶界面鍵盤控制游標
下一篇:阿里云除錯esp8266失敗
