硬體開發的整個全部流程持續時間比較長，但實際專案中可能有一些可借鑒的硬體產品，對硬體需求進行相應升級，硬體開發的整個流程主要包括有硬體需求分析、硬體總體設計方案、硬體開發與質量控制、系統測驗、檔案歸檔及驗收，
4、系統測驗
硬體與軟體具備條件后，需要進行聯合測驗，測驗前硬體需保證板上電源均正常，主要測驗目的是發現設計缺陷與不足，通過相應的硬體各功能指標測驗、硬體在環測驗、環境測驗、EMC測驗以及可靠性測驗等，
硬體各功能指標測驗包括有電源質量測驗、各功能單元電路測驗、信號完整性測驗、DDR等存盤器讀寫測驗、以太網測驗、PCIE測驗、USB測驗、光發送功率及接收靈敏度測驗等，
硬體在環測驗，將目標硬體的外部所需的介面設備全部連接進行功能測驗，外部設備可以是實物、模擬裝置、數字仿真器等，模擬硬體實際運行工況，對軟硬體進行驗證，
環境測驗，工業級民品主要依據國標GB-T 2423系列標準進行環境測驗驗證，一般包括有高溫存盤、低溫存盤、高溫運行、低溫運行、溫度變化試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、鹽霧霉菌試驗以及機械振動試驗等，
EMC測驗包括有EMS和EMI兩類試驗，工業級民品主要依據GB-T 17626系列標準（對應國際IEC 61000系列標準），主要包含有靜電放電抗擾度、射頻電磁場輻射抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、浪涌抗擾度、阻尼振蕩磁場抗擾度、工頻磁場抗擾度、脈沖磁場抗擾度、傳導發射試驗、射頻發射試驗等，
可靠性測驗包括有HALT和HASS兩類試驗，HALT試驗全稱是高加速壽命試驗，是一種試驗方法（思想），采用的環境應力比加速試驗更加嚴酷，主要應用于產品開發階段，它能以較短的時間促使產品的設計和工藝缺陷暴露出來，從而為我們做設計改進，提升產品可靠性提供依據，HASS試驗全稱是高加速應力篩選試驗，HASS是產品通過HALT得出作業極限或破壞極限值后在生產階段所做的高加速應力篩選，一般要求100％的產品參加篩選，
5、檔案歸檔及驗收
測驗通過后，需對中間各程序檔案進行評審、驗收并入至公司資料庫，以備后續小批量及量產后可能出現的問題分析測驗提供參考，驗收后需不斷跟蹤批量生產及運行程序中的問題，對硬體隱患不斷進行維護升級，采用模塊化設計思想可以大量減少該部分作業量，
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作者：PIN凡不凡
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